二次元影像式測繪儀VMS-1510G該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領(lǐng)域， 在機械、 電子、儀表、 塑膠等行業(yè)被廣泛使用。
二次元影像式測繪儀VMS該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領(lǐng)域， 在機械、 電子、儀表、 塑膠等行業(yè)被廣泛使用。
全自動影像測量儀FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技術(shù)標準ASTM及B568，DIN60987， ISO3497的X一射線熒光分析法來進行測量， 下但可以測量金屬層厚度及金屬之間的比重， 還可以進行金屬物料分析。
FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技術(shù)標準ASTM及B568，DIN60987， ISO3497的X一射線熒光分析法來進行測量， 下但可以測量金屬層厚度及金屬之間的比重， 還可以進行金屬物料分析。
復合型影像測量儀是采用全新數(shù)學計算方法來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較復雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣可以測量。
